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產(chǎn)品詳細(xì)頁紅外線測厚儀RX200
- 產(chǎn)品型號:RX200
- 更新時(shí)間:2024-03-19
- 產(chǎn)品介紹:RX-200 測量方法:紅外線反射吸收式 分光方式:旋轉(zhuǎn)過濾器方式(可以實(shí)際裝載6張) 測量距離:25mm(本體部下方面) 測量面積:5×8mm(橢圓) 尺寸?重量:230 (W)×134(D)×90(H),約4.5kg
- 在線留言 86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339
產(chǎn)品介紹
正反射P偏光型標(biāo)準(zhǔn)在線膜厚計(jì)!消除了引起誤差的表面反射,可以正確進(jìn)行測量。
如果把紅外線照射到被測物上,就會發(fā)生與膜厚相對應(yīng)的特定波長的紅外線吸收現(xiàn)象。從透過光或鏡面金屬板的正反射光來掌握吸收量,再按事先測得的吸光度與水分值的關(guān)系式,可以測量膜厚。
并且,采用本公司獨(dú)自的P偏光入射方式。消除因表面反射或內(nèi)部多重反射引起的誤差,提供紅外線測厚儀的硬件。
- 節(jié)省空間(在線)
因?yàn)槭切⌒蛡鞲衅黝^,故不受放置空間約束。只需占用現(xiàn)有生產(chǎn)線上的狹小空間。 - 瞬間測量
無需任何前處理。且可實(shí)現(xiàn)非破壞、非接觸的瞬間測量。 - 廣泛的適應(yīng)性
通過由zui大6波長組成的濾光器,可以測量各種材質(zhì)的膜厚及水分。 - 出眾的測量精度
通過采用本公司獨(dú)自的P偏光方式,即使是幾μm以下的薄膜,也可得到穩(wěn)定的測量結(jié)果。 - 擁有值得信賴的長期穩(wěn)定性
根據(jù)周圍環(huán)境和裝置的變動(dòng),采用3波長測光方式確保長期性的精度。
用途例
- LCD用光學(xué)薄膜測厚
- 聚合電池的隔離板測厚
- 彩色顯像管蔭罩的感光乳劑測厚
- 鋁箔上的乙烯涂層測厚
- 防霧加工薄膜的防霧劑涂層測厚
- 復(fù)合膜的粘合劑涂層測厚
- 收縮標(biāo)簽的脫膠檢查等
- 鋼板上的有機(jī)附著量測量
規(guī)格
項(xiàng)目 | 規(guī)格 | |
---|---|---|
測量方法 | 紅外線反射吸收式 | |
分光方式 | 旋轉(zhuǎn)過濾器方式(可以實(shí)際安裝6張) | |
測量距離 | 25mm(從本體部下面) | |
測量面積 | 5×8mm(橢圓) | |
尺寸、重量、電源 | 傳感器頭 | 230(W)×134(D)×90(H)、約4.5kg(不含突起部) |
數(shù)據(jù)處理部 | 275(W)×300(D)×165(H)、約6.7kg(不含突起部) | |
中繼單元部 | 250(W)×140(D)×113(H)、約3kg(不含突起部) | |
外部輸出 | 從模擬0~10v 到4~20mA進(jìn)行選擇(出廠時(shí)設(shè)定) | |
環(huán)境溫度 | 0~40℃(沒有結(jié)露) | |
電源 | AC100V±10% 50/60Hz |
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